intelliwave中文版能够很好地进行所需的各项自动化质量检测，为你带来相位测量服务，支持干涉条纹的描绘功能，能够很好地实现光程差的计算，帮助用户们应用到图像加工等众多行业带来最佳的使用体验！

intelliwave 汉化版介绍

Intelliwave是一种功能强大的干涉图形攫取和分析的一套软件，通常用于量测许多表面（材料）的外形（或是其他特性），包括镜子、透镜、半导体芯片、和其它许多反射或不反射的表面。为了推断镜片表面外形，Intelliwave需要制造一个光学相位差来获得干涉图形，因为干涉条纹图是干涉仪中的测试光及参考光的光程差而形成，藉着干涉图形的处理，主要在于鉴定待测光学仪器的表面外型。Intelliwave 结合了攫取、输入、分析、以及许多实际干涉图形文档等等特性，更提供了强大、快速、灵活性、容易使用、还有广泛数据信息的优点。

软件特色

分析特性

Intelliwave提供一套完整的分析工具，包括统计信息、像差、绕射分析、图象加工、以及 几何图象转换。 它支持了多样化干涉图形的处理技术，也可把干涉图转换成光学相位差(OPD)或表面图（surface map），Intelliwave还具有处理实时信息及对有杂讯的信息作有效处理。

功能介绍

使用范围

光学统的动态控制

全像摄影

极温度（ Extreme Temperature）的应用

天文上的应用 : 天文镜片、天文望远镜

对于非球状光学结构有高分辨率

在半导体上的应用

高功率激光的外型和反射特性的量测

光学量测

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